FIB薄片取出器

 

简介: 高精度 X- Y- Z- R- (T) 五自由度纳米手。图中所示五自由度纳米手应用非常广泛,除可用于FIB薄片取出器外(薄片用于TEM观测),还可进行许多其它的纳米级操纵实验。

 

 



产品概述:

移动范围:
X = 20 mm, Y = 20 mm, Z = 5mm, 
R = unlimited, T = ± 10°  (manual tilt variation).

 

可根据需求定制更大的移动范围或更多的活动轴(自由度)。

集成的线性编码器让用户任意时刻都能掌握纳米手的确切位置,该特点非常有利于针尖向感兴趣点的移动过程。 而且,位置点参数可以存储并调用,方便重复利用。

 

得益于严格的正交机械轴设计,用户进行操作时非常简易直观。

 

产品规格:

 

材质:

铝, 不锈钢, 陶瓷

尺寸(mm, L x B x H):

重量:

˜ 40 x 54 x 35 (cross table) 

~100g.

移动范围(mm):

20 x 20 x 20 (XYZ-Modul)

移动精度:

< 10 nm

移动速度范围:

1000 µm/sec*. – 0,001 µm/sec.

位置确定:

线性编码器

控制器:

微处理器控制器, 摇杆

外罩:

桌面盒子

*= 可根据需求提供更高的速度

 

示例:

 

1:针尖接触薄片

针尖接触薄片

2:针平滑地取出薄片

针平滑地取出薄片

3:针和薄片近视图

针和薄片近视图

4:薄片靠近TEM GRID

薄片靠近TEMGRID

5:薄片焊接到GRID上

薄片焊接到GRID上

6:完成转移。

完成转移

 

 

 

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